HT7024 HT7024A-1  HT7024-1电压检测器

HT7024特征：

· 低功耗

· 低温漂

· 内置高性能参考电压源

· 内置回差特性

· TO-92 封装

· SOT-89封装/SOT23-3封装

HT7024应用范围：

· 电池检测 （Batterycheckers）

· 自定义电平选择 （Levelselectors）

· 电源失效检测 （Powerfailure detectors）

· 微处理器复位 （Microcomputer reset）

· 电池记忆备份 （Batterymemory backup）

· Non-volatile RAM 信号存储保护

GeneralDescription

MD70XX 系列是基于CMOS技术的低功耗三端电压检测芯片。本系列芯片的电压检测范围为1.9~9V。电压检测器内置一个高精度、低功耗基准源，一个比较器、一个延时电路和一个输出驱动。本品不仅可以检测固定电压，在外接额外器件时还可以用来检测自定义的阈值电压（仅适用于NMOS开漏输出型）。

Selection Table

NMOS 开漏输出, 低有效。

比如:MD7044 在Vin<4.4V 时, 对于NMOS开漏输出型，Vout 为低电平。

本产品可提供客户半定制产品：选择范围为1.5~9V，其中每0.1V步进细分。

本产品可提供客户CMOS输出的半定制产品。例如：MD7025,MD7028。

 

型号	检测电压	回差宽度	精度
MD7027C	2.7V	0.135V	±3%

注：MD7027C 为CMOS输出，SOT23-3封装。

原理图：

N沟道开漏输出 (常开; 低有效)

A type

 虚线......输入电压从低到高

 实线......输入电压从高到低

管脚排列                               

极限值：

电源.....................................................................................................................-0.3Vto 18V

输出电压.............VSS-0.3V to VDD+0.3V      输出电流.........................................50mA

芯片存放温度.....................-50℃to 125℃       功耗................200 mW   TO -92

工作温度.................-40℃ to 85℃             功耗................250 mW   SOT -89

注意：以上只是极限值。如实际使用中超过以上极限值将对芯片造成实质性的损伤。在芯片工作中，请勿使芯片工作在上述极限条件下，如长期工作在极限条件下将严重影响以后芯片在正常使用时的可靠性。

电参数:

   MD7019A                                                           TA=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	1.843	1.9	1.957	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	3.1	空载	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	1.5	3	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

   MD7021A                                                           T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	2.037	2.1	2.163	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	3.1	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	1.5	3	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

   MD7022A                                                           T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	2.134	2.2	2.266	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	3.1	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	1.5	3	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

MD7024A                                                           T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	2.328	2.4	2.472	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	3.1	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	1.5	3	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

  MD7027A                                                            T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	2.619	2.7	2.781	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	3.7	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	2	4	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

 MD7030A                                                             T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	2.91	3.0	3.09	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	4.0	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	2	4	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

  MD7033A                                                            T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	3.201	3.3	3.399	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	4.3	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	2	4	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

  MD7039A                                                            TA=25℃                                                   

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	3.783	3.9	4.017	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	4.3	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	3	6	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.5	--	mV/℃

  MD7042A                                                            T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	4.074	4.2	4.326	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	5.2	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	3	6	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.6	--	mV/℃

MD7044A                                                              T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	4.368	4.4	4.532	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	5.4	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	4	8	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.6	--	mV/℃

MD7050A                                                              T A=25℃

Symbol	指标	测试条件		最小值	典型值	最大值	单位
		VDD	Conditions
VDET	高→低检测电压	--	--	4.850	5.0	5.150	V
VHYS	回差宽度	--	--	0.02 VDET	0.05 VDET	0.1 VDET	V
IDD	工作电流	5.4	No load	--	1.2	2	uA
VDD	工作电压	--	--	1.5	--	15	V
IOL	输出吸入电流	2	VOUT=0.2V	4	8	--	mA
△VDET △T A	温度系数	--	0℃<Ta<70℃	--	±0.6	--	mV/℃

功能描述：

MD70XX 内置一个高性能参考电压。此参考

电压定义为Vref，连接到比较器Vin-端。当反

馈电压Vb高于Vref时，Vout输出高电压。此时，

M1关断，VBH=VDD×(RB+RC)/(RA+RB+RC).

随着VDD下降，Vb也下降。当Vb< Vref时，通过

比较器使M1开启，输出为低。

此时，VBL=VDD×RB/(RA+RB), 比较器输出为低。

当VB ≈ VREF 时，比较器输出常低以防止震荡。

VDD小于最小工作电压时，输出为高阻。

当VDD 从0V 升到VDD×RB/(RA+RB)>VREF,时，比较器使VOUT输出为高.

检测电压为：

VDET (-) =RA+ RB+ RC ×VREF

          RB +RC

建立电压为:

VDET (+) =RA+ RB×VREF

          RB

电压回差宽度为:

VHYS = VDET (+) - VDET (-)

下图为NMOS 开漏输出的内部示意图(VOUT

常开, 低有效). MD70XX 系列同样提供了

其他高有效的输出类型。

                                             NMOS输出电压检测器(MD70XXA)

应用电路：

微处理器复位电路

通常一个复位电路要求防止电源的线性干扰以

保护微处理器正常工作。下图显示了如何在不

同系统中配置复位功能。

多电源系统下的应用：

开关复位电路

使用几个不同的外部器件，使用NMOS开漏输出的

MD70XX系列的开关复位电路如下图所示：

输出带RC延时的应用：